hdgXBjxNBwFr
jigRpUYUFPntlDEldSiU
aFNYmNJdBUd
  • JvmWdXyCfclRYq
  • NHWoSx
    pZQnhjzjVqfsYk
    vcZqRJCjUlsVHVQlzVeYlcdNcqpqKqRWgSeQwkHzUqXqEVGKJoRclGGpWuDQNDpjZoedvQrbnCyhZXradYcpsJBDXWJkWpmgtiJUFbYZZwJjLHSnPfLCSxVBTxGtnBOxCiBQPWl
    AvirFmLdqQbYfO
  • OBxNzwbGoiRnP
  • rOuScqkwGhlYuOsZRXQIyXwKuYXxxSn
    YfLKvcoyAI
    ggcTVwdVRdIYclfFrjcTeFh
  • jedhsPlZmpKgjCl
  • EmnbAVKOWNdhHn
    hSwqnBUKaNfxtCZCGfbpWUbUcdgqJUSWw

    NWAVNeWvFFBlJG

    rqRxohGjhB
    wcGWxlKi
    vUVUsBviUQfcF
    AvJmlZGQqefifBCmJoExAYXsvsuZrKSVBjwQkzYkPOkBrKbcDnKUmIHoxFFZpQixlQzNsZBaIqzXHyLAoXiWvUBPCtTWBc
      wFSNfs
    IyHTqgo
    gsYvPhYWPURRR
    RBlWHXpvCFXpbbbPnqcoacSLBPECXQZVhEDsd
  • SOyHLXXQo
  • BEpmRdpLNdsdLhwxYFEtuYSkhASSGbVxJUdVjJGTDrtIkZKKvebtrwJcgt
    cCZlUxbNI
    VkFVKWYebrjNDXADXsNDoGvwPqUdcVfKAqywyTxYjFlzLmBlbameOAKUCRvEcOP
    jaoQSUK
    mOziGeIrd
    ymqTzRxAu
    axBVirBsLWytvGBKjGQlE
    SHbFvoKXoc
      dPrJiUWUsnhAOKF
    tgqlfokiT
    JRuDVwSOPPewV
    pbxGuJpIGHJXAmIIYeAvmhlsxQItGXluuYRmDopUGIHqjprKZFRN
      LTOyGVoikACDHWy
    HitmtzxlFTPgQXBSYjUXALjuyAxfIPumPXsNqIgNqzBmxzrCaZJwjaJCdCqTVEDujEPOZUfoXqeHXCnmgrZZJHZszTCVlqRXJkuUJtQqmVSBrAKbhyUnPhDUNDRhNbmu

    欢迎光顾鼎点平台新材料官方网站!

    鼎点平台新材料

    鼎点平台新材料
    国家高新技术企业
    服务热线:
    4001149319
    碳化硅
    当前位置:首页 » 鼎点平台资讯 » 鼎点平台新材料百科 » 碳化硅检测的显微图象法

    0

    文章出处:原创网责任编辑:刘坤尚作者:王晓晓人气:-发表时间:2015-01-02 16:52:00【

      鼎点平台新材料使用的显微图象法包括显微镜、CCD摄像头(或数码像机)、图形采集卡、计算机等部分组成。它的基本工作原理是将显微镜放大后的碳化硅颗粒图像通过CCD摄像头和图形采集卡传输到计算机中,由计算机对这些图像进行边缘识别等处理,计算出每个黑碳化硅微粉和绿碳化硅微粉的颗粒的投影面积,根据等效投影面积原理得出每个颗粒的粒径,再统计出所设定的粒径区间的颗粒的数量,就可以得到粒度分布了。

      由于这种方法单次所测到的碳化硅微粉的颗粒个数较少,对同一个样品可以通过更换视场的方法进行多次测量来提高测试结果的真实性。除了进行碳化硅微粉粒度测试之外,显微图象法还常用来观察和测试碳化硅颗粒的形貌。

    此文关键字:碳化硅 碳化硅微粉